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    Olympus奧林巴斯渦流陣列探傷儀OmniScan MX ECA/ECT

    產(chǎn)品型號: OmniScan MX ECA/ECT
    品  牌: Olympus
    • ≧1 臺
      ¥585000.00
    所 在 地: 廣東深圳
    更新日期: 2025-07-01
    詳細信息
     品牌:Olympus  型號:OmniScan MX ECA/ECT  加工定制:是  
     適用范圍:10Hz -20MHz  測試頻率:10Hz -20MHz  靈敏度:0.1°  
     相位范圍:0.0-359.9°,0.1°  外形尺寸:237 x 146 x 53 mm 靈敏度:0.1°  

    Olympus奧林巴斯渦流陣列探傷儀OmniScan MX ECA/ECT

    提高檢測性能、降低復雜程度

    MXE 3.0軟件
    渦流陣列(ECA)檢測技術(shù)除了增加了晶片之間的電子轉(zhuǎn)換能力外,實際上與渦流檢測(ECT)技術(shù)并無區(qū)別。渦流陣列檢測的操作與校準非常容易。OmniScan MXE 3.0 ECA軟件經(jīng)過重新設(shè)計,不僅方便了從傳統(tǒng)ECT儀器(如:奧林巴斯的Nortec 500)到ECA儀器的過渡,而且可以更便捷的方式提供ECA性能。實時阻抗平面圖
    ECA校準與傳統(tǒng)ECT校準的方式幾乎相同。校準過程中繼續(xù)應(yīng)用提離、增益和平衡調(diào)整原理,因此校準不會比通常情況更復雜、更耗時。

    使用ECA探頭時,可以實時生成提離信號,這點與使用傳統(tǒng)ECT探頭一樣。

    可以使用OmniScan的飛梭旋鈕,實時調(diào)整相位角度。還可以同樣的方式調(diào)整增益、垂直增益、平衡點(H/V)位置。


    替代傳統(tǒng)NDT(無損檢測)方法
    去除漆層已經(jīng)過時
    渦流陣列具有透過導電材料上的薄涂層進行檢測的獨特性能。與滲透、磁粉或磁光成像(MOI)等現(xiàn)有檢測方式相比,這個性能表現(xiàn)出巨大的優(yōu)勢,因為完全省去了檢測前去除漆層或鍍層,檢測后再重新涂上漆層或鍍層的步驟。隨著時間的推移,這種檢測方式可以為用戶節(jié)省大量的成本,而且*重要的是檢測過程中還不使用化學制劑。

     

    主要優(yōu)勢:

    • 無需去除漆層。
    • 成像和歸檔。
    • 一步檢測,高速掃查,結(jié)果即時。
    • 節(jié)省了大量的時間(一般可節(jié)省10倍或更多的時間)。
    • 大大縮短了周轉(zhuǎn)時間。
    • 具有缺陷深度評估能力。
    • 靈敏度可調(diào),可進行后處理分析。
    • 環(huán)保方法(不使用化學制劑)。

    各種熟悉的調(diào)色板選擇,提供更多的可能性

    MXE 3.0 ECA軟件提供一系列受專利保護的、借助彩色調(diào)色板表現(xiàn)數(shù)據(jù)的圖像形式,這種圖像沿用了傳統(tǒng)NDT方式表現(xiàn)數(shù)據(jù)的外觀,而且便于直觀地顯示ECA信號。

    滲透檢測(熒光)

    磁粉檢測(紅色粉末)

    磁粉檢測(熒光)

    分析、報告和歸檔
    檢測完成后,確認或重新檢測

    即使在現(xiàn)場檢測完成之后,OmniScan MX ECA仍然可以繼續(xù)發(fā)揮其數(shù)據(jù)存儲、分析和制作報告的價值。使用OmniScan MX ECA,用戶可以查看單個缺陷指示,并根據(jù)需要進行修正。MXE 3.0 ECA軟件采用了全新設(shè)計、直觀的數(shù)據(jù)光標,可以直接從儀器進行操作(在檢測現(xiàn)場),也可以通過USB端口連接鼠標進行操作(在辦公室)。

    MXE 3.0軟件的選擇光標非常直觀,可以快速選擇任何缺陷指示。

    可以輕松地對記錄的數(shù)據(jù)進行修正。上面的示例表明對增益(對比度)進行的調(diào)整。

    即刻報告,輕松歸檔

    OmniScan MX內(nèi)置有一鍵式報告制作功能。高級用戶還可以配置和自行定義報告。不過,廠家默認的報告格式已經(jīng)包含了屏幕截圖和精心選擇、預(yù)先導入的數(shù)據(jù)欄區(qū),目的是避免用戶自行定制報告的麻煩。

    檢測數(shù)據(jù)文件的歸檔也非常容易;無論在采集還是分析過程中,只需按一下鍵,即可將數(shù)據(jù)存儲在儀器的存儲卡中。

    借助鼠標輸入,用戶可以快速有效地進行數(shù)據(jù)分析。借助CompactFlash卡的讀卡器,用戶可以將文件歸檔到PC機中。



    編碼掃查,使得數(shù)據(jù)判讀更方便
    優(yōu)化后的校準過程只有3個步驟

    OmniScan MX ECA不僅可在常規(guī)ECT阻抗平面視圖中顯示ECA信號,還可提供多種其他視圖和布局,用戶可以從中感受到編碼ECA技術(shù)真正強大的性能。這些顯示可作為校準流程的一部分,可使渦流檢測過程清晰可見,甚至可基于用戶定義的合格標準做出通過或不通過的判斷。

    得益于其直觀的界面設(shè)計,OmniScan MX ECA可以快速方便的配置和操作。配置過程只有簡單的3個步驟。

    1.使用實時阻抗平面圖,實時調(diào)整常用的ECT控制。

    2.激活編碼器和C掃描視圖。

    3.微調(diào)設(shè)置,并為檢測做好準備。

     

     

    在全屏C掃描顯示中使用增益調(diào)節(jié)對比度。

    持續(xù)編碼器模式

    時基檢測的優(yōu)勢表現(xiàn)在無需對儀器進行過多的干預(yù),就可以提供幾乎無限的掃查性能,而編碼掃查(C掃描圖像)的優(yōu)點在于可以生成表明缺陷的位置、形狀和維度的頗具價值的彩色編碼圖像和信息。

    MXE 3.0 ECA軟件推出了一種新的持續(xù)編碼器模式,可生成編碼器經(jīng)過校正的圖像,同時還保留了時基檢測的用戶友好性。使用這種模式,可以獲得很高的檢測效率,而且用戶可以自由決定是否記錄缺陷指示。




    強大的彩色成像功能
    使用彩色編碼C掃描評估缺陷的深度

    在大多數(shù)表面或近表面的應(yīng)用中,使用渦流陣列技術(shù)與使用常規(guī)渦流技術(shù)一樣,缺陷的嚴重程度與返回的渦流信號波幅密切相關(guān)。使用基于波幅的彩色編碼,并將每個通道的返回信號繪制成帶有編碼位置信息的圖像,就會使得到的C掃描顯示非常清晰直觀。這些掃描圖像可保存到可插拔CF卡中,也可在OmniScan MX儀器中被制作成報告。

    校準渦流陣列(ECA)的靈敏度和對比度時,必須要使用帶有深度已知的缺陷的參考標準試塊。

    校準后的ECA掃描圖像使用不同的顏色表現(xiàn)每個缺陷深度的范圍。

    圖中顯示實際飛機蒙皮的腐蝕缺陷指示。不同顏色表明缺陷的不同深度。

    基于閾限值為缺陷做出合格或次品的判定

    使用OmniScan MX ECA時,用戶可以基于C掃描彩色視圖,對缺陷指示做出合格或次品的判定。MXE 3.0 ECA軟件包含多種已經(jīng)廠家測試的彩色調(diào)色板,可以優(yōu)化ECA應(yīng)用中的信號顯示。

    此外,C掃描報警功能簡化了判廢信號的閘門設(shè)置情況,因為在阻抗平面圖信號進入報警區(qū)域時,它可使C掃描顏色即刻得到改變。

    MXE 3.0 ECA軟件預(yù)先裝載了多種適用于不同應(yīng)用的彩色調(diào)色板
    (專利權(quán)受到保護)。

    每當信號處于判廢區(qū)域時,報警功能就會使C掃描改變顏色。

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